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理学XRF ZSX Primus IV

理学Rigaku 波长色散X射线荧光光谱仪
固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析
作为管状上照射波长色散X射线荧光(WDXRF)光谱仪,理学ZSX PrimusIV在各种样品类型中快速定量测定从铍(Be)到铀(U)的主要和次要原子元素
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产品详情

ZSX Primus IV概述

新的ZSX指导专家系统XRF软件

ZSX Guidance在XRF测量和数据分析的各个方面为您提供支持。只有专家才能进行准确的分析吗?不——那是过去。ZSX Guidance软件内置XRF专业知识和熟练专家的诀窍,可以处理复杂的设置。操作员只需输入有关样品、分析组件和标准组成的基本信息。重叠最少的测量线、最佳背景和校正参数(包括线重叠)在定性光谱的帮助下自动设置。

出色的光元件XRF性能与倒置光学,具有卓越的可靠性

ZSX PrimusIV具有创新的光学配置。再也不担心因样品室维护而导致的受污染的光束路径或停机时间。光学-上面的几何形状消除了清洁的担忧,并增加了正常使用时间。ZSX PrimusIV WDXRF光谱仪具有分析最复杂样品的卓越性能和灵活性,具有30微米管,这是业内最薄的端窗管,具有特殊的光元素(低Z)检测限。

映射和多点XRF分析

结合最先进的测绘包来检测均匀性和夹杂物,ZSX PrimusIV可以对样品进行简单的详细XRF光谱调查,这些样品提供了其他分析方法不容易获得的分析见解。可用的多点分析也有助于消除不均匀材料的取样误差。

EZ扫描软件的SQX基本参数

EZ-scan允许用户对未知样本进行XRF元素分析,而无需任何事先设置。此节省时间功能只需单击几下鼠标并输入示例名称即可。结合SQX基本参数软件,它提供了最准确、最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有矩阵效果,包括线重叠。SQX还可以通过光电子(轻和超轻元素)、不同的大气、杂质和不同的样品大小来校正二次激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序来提高准确性。

氮气或氦气冲洗机制

氮气现在可以代替氦气作为大气气体使用。使用氮气时,SQX分析范围为15P至96Cm。在氮气气氛中测量时,标准选项“SQX散射FP方法”不适用。

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